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技術(shù)文章
  • 2025

    2-19

    鎢燈絲掃描電鏡的優(yōu)缺點

    鎢燈絲掃描電鏡的總發(fā)射電流和光斑大,抗干擾能力和穩(wěn)定性好??稍诘驼婵障虏怀潆妼Ψ菍?dǎo)電樣品進行成像,并可用于形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)分析,以及斷囗形貌分析。優(yōu)勢:1、操作簡單:設(shè)備結(jié)構(gòu)相對簡單,操作界面友好,易于上手。維護和調(diào)試過程也相對簡單,減少了操作人員的培訓(xùn)成本和時間。2、適應(yīng)性強:可以在相對較低的真空度下工作(3、應(yīng)用廣泛廣,成本較低:鎢燈絲掃描電鏡的整體造價相對較低,適合預(yù)算有限的實驗室或研究機構(gòu)。維護和保養(yǎng)相對簡單且費用較低,降低了長期運營成本。缺點:1、分辨率有限:雖然...
  • 2025

    2-17

    透射掃描電子顯微鏡的基本工作原理

    透射掃描電子顯微鏡是一種結(jié)合了透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡特點的復(fù)合型顯微鏡,能夠通過掃描樣品并透射電子束來獲得高分辨率的樣品圖像,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物學(xué)等領(lǐng)域。透射掃描電子顯微鏡的基本工作原理,包括以下幾個方面:1、電子束的生成與加速其工作始于電子源的產(chǎn)生。通常采用場發(fā)射槍或熱陰極電子槍(如鎢絲或LaB6)來生成電子。電子源產(chǎn)生的電子被加速,通常加速電壓在幾十千伏(kV)到幾百千伏之間,這些高能電子可以穿透大多數(shù)物質(zhì)。電子束經(jīng)過加速后,會進入柱系統(tǒng)。2、電子...
  • 2025

    2-11

    聚焦離子束顯微鏡在哪些領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用?

    聚焦離子束顯微鏡是一種利用聚焦的離子束對材料表面進行掃描、分析和加工的高精度顯微技術(shù)。它具有非常高的空間分辨率,能夠在微米甚至納米尺度上對材料進行詳細的觀察和加工,因此在多個領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。以下是聚焦離子束顯微鏡在不同領(lǐng)域中的一些主要應(yīng)用。1、半導(dǎo)體工業(yè)在半導(dǎo)體行業(yè)中,具有至關(guān)重要的作用,特別是在集成電路(IC)的研發(fā)、制造和故障分析過程中。通過使用,工程師能夠?qū)π酒瑑?nèi)部的微小結(jié)構(gòu)進行高精度切割、刻蝕、分析和修復(fù)。2、材料科學(xué)在材料科學(xué)中的應(yīng)用也十分廣泛。通過使用,科學(xué)家能...
  • 2025

    1-17

    顯微硬度測試儀的使用與維護

    顯微硬度測試儀主要用于測量微小、薄型試件以及脆硬材料的硬度。它特別適用于薄膜、陶瓷、電子組件、金屬表面加工層、熱處理試件等材料的測試。此外還可以用于研究物質(zhì)的力學(xué)性質(zhì),如彈性模量等,以及納米材料的力學(xué)性質(zhì)。本公司提供的Q10/Q30顯微硬度測試儀根據(jù)材料和表面進行自動亮度調(diào)節(jié);可安裝多個硬度壓力頭和目鏡的可自動旋轉(zhuǎn)六位測量轉(zhuǎn)塔臺;具有方便易用的QpixT12及QpixCONTROL軟件系統(tǒng),具有多種菜單和測量功能,如可根據(jù)客戶的標(biāo)準(zhǔn)、數(shù)據(jù)管理、統(tǒng)計及數(shù)據(jù)輸出功能和文本的各種要...
  • 2025

    1-14

    智能型鎢燈絲掃描電鏡的主要用途

    智能型鎢燈絲掃描電鏡結(jié)合了傳統(tǒng)掃描電鏡的高分辨率成像能力與智能化的控制系統(tǒng),具有更高的自動化水平、更強的圖像處理能力以及更多的數(shù)據(jù)分析功能。它能夠提供更加精確、快速和高效的掃描成像,為科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用提供強有力的支持。智能型鎢燈絲掃描電鏡的主要用途:1、材料科學(xué)研究材料科學(xué)是應(yīng)用的一個重要領(lǐng)域。它可以通過高分辨率成像和化學(xué)分析,幫助研究人員深入了解各種材料的微觀結(jié)構(gòu)、表面形貌和成分分布。例如,在金屬、合金、陶瓷、復(fù)合材料等領(lǐng)域,可用于觀察材料的晶粒結(jié)構(gòu)、缺陷、斷裂面等。2、...
  • 2025

    1-8

    簡述高性能場發(fā)射掃描電鏡的工作原理

    高性能場發(fā)射掃描電鏡是一種用于觀察材料表面微觀結(jié)構(gòu)的先進電子顯微鏡,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、半導(dǎo)體行業(yè)等領(lǐng)域。它采用場發(fā)射電子源,具有比傳統(tǒng)掃描電鏡(SEM)更高的分辨率和更強的成像能力。其工作原理主要包括電子源、電子束的掃描、樣品與電子束的相互作用、圖像的獲取等過程。高性能場發(fā)射掃描電鏡的工作原理如下:1、電子槍和場發(fā)射源其核心部件之一是電子槍,通常采用場發(fā)射電子源。場發(fā)射電子源與傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子源(如鎢絲陰極)相比,具有更高的亮度和更窄的電子束發(fā)射角度。場發(fā)射電子源...
  • 2024

    12-25

    FIB雙束掃描電鏡的應(yīng)用優(yōu)勢是什么?

    FIB雙束掃描電鏡是一種結(jié)合了聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)的高精度微納加工和分析設(shè)備,在試驗時可通過轉(zhuǎn)動試樣臺使試樣表面與電子束或者離子束垂直,從而達到對電子束進行實時觀測和對離子束進行切割或者微加工等效果。應(yīng)用優(yōu)勢:1、高精度加工:FIB技術(shù)可以在不破壞樣品整體結(jié)構(gòu)的情況下,制備出高質(zhì)量的截面樣品,適用于多層互連結(jié)構(gòu)和微小缺陷的分析。2、實時成像監(jiān)控:SEM可以對樣品表面進行實時成像,幫助分析師快速準(zhǔn)確地找到異常區(qū)域,定位問題區(qū)域。3、操作靈活性高:FIB...
  • 2024

    12-20

    電鏡應(yīng)用|掃描電鏡下的食品微觀結(jié)構(gòu)

    掃描電子顯微鏡(SEM)是一種應(yīng)用于各個領(lǐng)域的高分辨率成像儀器,因其優(yōu)異的表征性能和高分辨率的成像能力,廣泛應(yīng)用于食品微觀結(jié)構(gòu)的表征中。民以食為天,食品是日常生活中不可少的一部分,而食品的微觀結(jié)構(gòu)與品質(zhì)密切相關(guān),因此利用掃描電子顯微鏡對食品進行微觀結(jié)構(gòu)表征具有重要的意義。首先,掃描電子顯微鏡能夠揭示食品中微觀結(jié)構(gòu)的形貌和組織特征。以鹽為例,傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡分辨率和景深都有限,只能觀察到鹽的晶體外觀,而無法揭示其微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌。通過掃描電子顯微鏡,可以清晰地觀察到鹽晶體的表...
  • 2024

    12-20

    電鏡應(yīng)用|掃描電鏡在電纜失效分析中的應(yīng)用

    電連接器在電氣系統(tǒng)中主要應(yīng)用在電信號的傳輸。復(fù)雜的電信號系統(tǒng)由成千上萬個連接器組成。每個連接器的好壞優(yōu)劣直接影響整個系統(tǒng)的功能實現(xiàn),所以連接器失效造成的影響很大,當(dāng)一根電纜出現(xiàn)失效后需要從連接器到線纜逐一排除問題,發(fā)現(xiàn)根源,進而規(guī)避失效電纜的出現(xiàn)。案例一掃描電鏡作為材料顯微分析的重要工具,廣泛應(yīng)用于電纜的失效分析。如下圖A電纜,導(dǎo)線在連接器焊點處發(fā)生斷裂。顯微鏡下對斷口進行觀察,斷口表面存在金屬光澤,斷口附近未見機械損傷及腐蝕痕跡,斷口宏觀形貌如下圖所示。圖1:電纜斷口宏觀形...
  • 2024

    12-20

    電鏡應(yīng)用|硬質(zhì)合金粉末微觀形貌及元素分析

    掃描電子顯微鏡在硬質(zhì)合金材料中的分析和應(yīng)用十分廣泛,主要應(yīng)用于硬質(zhì)合金材料粉末的形貌觀察,均勻性和結(jié)晶度觀察,合金組織觀察,斷口分析,微區(qū)成分分析以及涂層厚度測量等。還可以用于深入研究硬質(zhì)合金材料的微觀結(jié)構(gòu)與工藝條件及性能的關(guān)系,對材料整個生產(chǎn)鏈的機理研究,工藝研發(fā)和質(zhì)量控制等均可提供指導(dǎo)性的作用。硬質(zhì)合金的原材料硬質(zhì)合金是以一種或幾種難熔碳化物(碳化鎢、碳化鈦等)的粉末,加入作為粘結(jié)劑的金屬粉末(鈷、鎳等),經(jīng)過粉末冶金法制得的合金。而硬質(zhì)合金的性能直接取決于其顯微結(jié)構(gòu),而...
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